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激光投影光色性能分析仪-激光显示光学测试系统-LCOS激光投影分析系统
SS445系统是专门为大屏幕投影显示测量而设计一款产品，适用于所有投影技术，如DLP、LCD、LCOS、影院屏幕，以及后屏投影仪、仿真器等。SS445采用计算机控制的Pan & Tilt定位系统，从而移动到所需的测试点，配置的140万像素CCD相机，具有自动对焦功能，可以测量MTF、亮度、均匀度、伽马等，而配置的分光光谱辐射计可以用于亮度和色度的测量。测量时，一般放置在三脚架上或投影屏幕前的桌子上，从观察者的角度进行测量，从而更好地表征用户体验。
激光投影光色性能分析仪-激光显示光学测试系统-LCOS激光投影分析系统-SS445产品描述：
激光投影光色性能分析仪-激光显示光学测试系统-LCOS激光投影分析系统-SS445 是Microvison 专门为大屏幕投影显示测量而设计一款产品，适用于所有投影技术，如DLP、LCD、LCOS、影院屏幕，以及后屏投影仪、仿真器等。SS445采用计算机控制的Pan & Tilt定位系统，从而移动到所需的测试点，配置的140万像素CCD相机，具有自动对焦功能，可以测量MTF、亮度、均匀度、伽马等，而配置的分光光谱辐射计可以用于亮度和色度的测量。测量时，一般放置在三脚架上或投影屏幕前的桌子上，从观察者的角度进行测量，从而更好地表征用户体验。
工作原理：
Microvision SS445是专门为大屏幕显示器设计的显示测量系统。这包括采用任何现有投影引擎技术的，直至剧院大小的投影显示器。该系统使用电动平移和倾斜机构移动到所需的测试位置。该系统可以配置有1.4MP CCD相机和/或衍射光栅光谱仪。在操作过程中，系统位于待测显示器的前面。图形生成器或Microvision的MVRemote用于自动显示测试图形，或者如有需要，客户的系统可以生成图像。SS445旨在从观察者的角度对显示器进行测量，从而更好地表现出实际看到的显示器性能。可以快速测量几个观察者位置，从而完全定义显示。在操作员输入所需的测试位置（X＆Y或像素坐标）的情况下，测试可以完全自动化，并且系统将在这些位置自动查找并运行选定的测试。
产品亮点：
- 适合超大屏幕测量
- 基于观测者角度测量，更好地表征用户体验
- 多功能集合体，设计紧凑
- 包含集成信号源
- 具备MV remote模式，通过WiFi连接和测量移动设备
- 自动化测试
- 程序自动控温，精确测量
- 包含MV系统软件，操作界面友好
- 提供完整测试方案
- 用户可自定义客制化测试
- NIST可溯源校准
应用范围：
- 投影显示 - DLP、LCOS、家用投影、影院投影、后屏投影仪、仿真器等
- 平板显示（FPD）- OLED, QLED, LCD, Micro-LED, Plasma
- CRT显示 - 单色，彩色，高分辨率医学显示器
激光投影光色性能分析仪-激光显示光学测试系统-LCOS激光投影分析系统-SS445技术参数：
CCD相机
- 图像传感器：1392x1040 像素
- 数字视频：12-位
- 元件尺寸：6.45 μm/像素
- 同步性：同步捕获
- 滤镜：适光性 50%, 20%, 10% & 1% ND
- 标准镜头：25mm C mount, f1.6 - f16
- 视场：20mm@1m,可调节
- 工作距离范围：0.5~3.5 m
- 亮度精度：± 4% @ 2856K Ill.A
- 亮度范围：0.05 ~ 106 cd/m2 （含ND滤镜）
- 测量时间：对于多数测量<1 sec
Spectrometer + Goniometer 光谱辐射计+测角仪
- 测角仪倾斜角：0~85°
- 测角仪方位角：0~360°
- 波长范围：380 ~ 780nm (1000nm可选)
- 亮度范围：0.01 ~ 500K cd/m2
- 亮度精度：±3% @ 2856K Ill.A
- 亮度重复率：超过30分钟RSD < 0.5%,0.01 cd/m2灵敏度@ 3% RSD
- 色彩准确度：± 0.002 @ 2856K Ill.A
- 色彩重复率：± 0.0005 @ 2856K Ill.A
- 温度管理：电脑自动控制
- 光学器件：12mm 准直
- 视场角：1.5°
- 数字分辨率：16 bit A/D
- 积分时间：16.7 ~ 5000 msec (sync@60hz)
- 光学分辨率：3.8nm半高宽 @ 100μm狭缝
- 校准：NIST可追溯
- 操作温度：5~ 30℃
Pan & Tilt 位移台
- 分辨率：0.0032°
- 载荷量：9 lbs
升级选项：
- 精准位移台（搭配位移台，可精确位移从而实现自动测试）
- 提升测量范围（适用ND滤光片，提高感光器件的测试范围）
测试案例:
