Otsuka-MCPD9800-高精度光谱仪-多功能光谱仪
浏览次数:3055 分类:Maxmile/Otsuka 光谱仪
Otsuka MCPD-9800是一款涵盖紫外到近红外波长范围的多用途光谱仪,最短的测量时间可达5ms,利用光纤探头,可以配置多种光学器件,可用于测量发光光谱透射/吸收光谱,反射光谱,光致发光,物体颜色,光源颜色(色度,亮度,照度),膜厚,等离子体发射光谱等对象,可以测量的技术参数包括微点光谱、光源、透射率、反射率、物体颜色和厚度等。
Otsuka-MCPD9800-高精度光谱仪-多功能光谱仪 产品描述:
Otsuka-MCPD9800-高精度光谱仪-多功能光谱仪 是一款涵盖紫外到近红外波长范围的多用途光谱仪,最短的测量时间可达5ms,利用光纤探头,可以配置多种光学器件,可用于测量发光光谱透射/吸收光谱,反射光谱,光致发光,物体颜色,光源颜色(色度,亮度,照度),膜厚,等离子体发射光谱等对象,可以测量的技术参数包括微点光谱、光源、透射率、反射率、物体颜色和厚度等。
工作原理:
MCPD-9800具有十二个波长范围,配备了通用USB端口和LAN端口,可以通过512ch或1024ch探测器以5 msec的间隔监视UV / VIS / NIR光谱,进行高速和高灵敏度频谱采集。产品使用标准光纤,可以配置柔性光学器件,免受样品形状和大小的任何限制。此外,可以轻松地集成到显微镜和大样品台,实现卓越的光学性能。MCPD系列均符合日本工业标准(JIS Z 8724)对光谱仪产品的质量和精度要求。
产品亮点:
- 宽动态范围,适合光通量测量
- 杂散光校正功能可进行紫外线测量
- 集成时间范围5ms-65s,适用于非常弱的光源,高速需求和生产线
- 外形轻巧紧凑,尺寸比上一代缩小了60%
- 具备能应对多种用途的各种类型的探测器
- 高速、高灵敏度测量
- 通信接口可对应USB和LAN
- 光纤探头,可搭配其他探测件使用
- JCSS可溯源校准
应用范围:
- 光源评估(亮度、色度等)
- PDP荧光测量
- LED和EL的光通量
- 多点测量监控
- 显微镜下微点测量
- 反射/透射特性测量
- 漆面颜色控制及测试
- 光学材料和反射镜的表面特性
- 晶片,玻璃和铝等各种基材上的膜和涂层的厚度和反射光谱
技术参数:
测量参数
- 光谱范围:220~850nm/300~950nm/360~830nm/360-1100nm/900~1600nm
- 分光器:平面场型
- 探测器(ch):电子冷却CCD图像传感器/电热冷却InGaAs图像传感器
- 理论分辨率:0.5/0.7/0.8/1.0/1.4/1.6/1.9
- 光纤:石英制显微,开口直径φ12mm,长约2m/掺锗石英纤维,长约2m
- 扫描时间:5ms~20s/1ms-10s
- 通信接口:USB或LAN
- 功耗:124VA,单相AC100~240V,50/60Hz
- 尺寸:105W x 230H x 280Dmm
- 重量:6.0kg
升级选项:
- 光谱仪规格可选(2285C/3095C/3683C/311C/916C)
- 标准版本(MCPD-6800)
- 高灵敏度版本(MCPD-7700)
- 各类光纤(投光/投光+受光/浸液式/多分路)
- 光源部件(单波长光源/D2/I2灯/佳能灯/卤素灯)
- 光学单元(窥视镜/积分球单元/溶液测量单元/集光单元/显微单元)
- 校正补偿配件(波长校正用光源/标准白板/已校正ND滤片/反射率标准样品)
- 测量、分析用软件(光源色测量/物体色测量/膜厚测量)