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量子效率测量系统QE2000-量子效率测试仪
浏览次数:2850 分类:Maxmile/Otsuka 量子效率测试仪
品牌：Otsuka，型号：QE-2000
Otsuka QE-2000是一套快速、准确的量子效率测量系统，可以测量粉末、溶液和固体等材料的绝对量子效率，基本消除紫外杂散光的影响，此外，采用半球集成探测器，可实现高灵敏度且消除再激发功能，从而获得荧光粉的真正特性。可以测量的技术参数包括：量子效率（产率），激发波长依赖性，发射光谱PL激发光谱和EEM（激励排放矩阵）等。
量子效率测量系统QE2000-量子效率测试仪 产品描述：
量子效率测量系统QE2000-量子效率测试仪 是一套快速、准确的量子效率测量系统，可以测量粉末、溶液和固体等材料的绝对量子效率，基本消除紫外杂散光的影响，此外，采用半球集成探测器，可实现高灵敏度且消除再激发功能，从而获得荧光粉的真正特性。可以测量的技术参数包括：量子效率（产率），激发波长依赖性，发射光谱PL激发光谱和EEM（激励排放矩阵）等。
工作原理：
QE-2000配备了集成半球的系统，具有各种独特功能。优化的几何形状可将非发射性零件定位在外部，从而使自吸收效应最小化，镜面照度约比现有的积分（全）球面高出两倍，还可轻松进行细胞装卸，以减少损坏球体内部的风险。QE-2000具有“真性”的再励消除功能。在包含再激励发射的条件下，不能获得真实的特性，因为其中包含了设备特性。利用积分球半球的优势，QE-2000可以使用消除再激励功能，荧光粉样品反射的激发光将在球体中进行漫反射，并且反射的激发光将再次采样，从而进行精确测量。与现有发出大量杂散光的探测器不同，Otsuka新发明了一种杂散光消除解决方案，用于QE-2000的阵列光谱仪的杂散光是现有模型的1/5（橙色光谱），可极大地减少紫外线区域的杂散光。
量子效率测量系统QE2000-量子效率测试仪 产品亮点：
- 瞬间测得绝对量子效率（绝对量子产额）
- 除去激发荧光发光光谱
- 采用积分半球系统，实现高亮度测量
- 采用低杂散光多频分光检出器，大幅度减少紫外杂光
- 配套专用软件，操作简单
- 设计紧凑，节省空间
- 使用分光器类型的激发光源，可以选择任意波长
- 可以设定激发光源的波长和步长，实现自动测量
- 可测量粉剂、溶液、固体（薄膜）试料
应用范围：
- 测量LED、有机EL用荧光体的量子效率
- 测量薄膜形状试料的透射荧光/反射荧光的量子效率
- 测量量子点、荧光探针、生物领域、包含化合物等的荧光
- 测量色素敏化太阳能电池的量子效率
- 测量络合物化合物
升级选项：
- 光谱仪规格可选（3683C/311C/2580C/3095C）
- 自动取样器
- 样品固定治具（粉剂测量用/薄膜测量用）
- 分离型量子效率测试系统QE-2100
技术参数：
测量参数
- 光谱范围：360~830nm/360~1100nm/250~800nm/300~950nm
- 像素波长宽度：1.0nm/0.5nm
- 光接收像素通道数：512ch/1024ch
- 传感器类型：电子冷却式CCD图形传感器
- 数电分辨率：16 bit ADC
- 分光器光学配置：背底（flatfield）型 F=3, f=85.8mm
激发光源
- 光源：150W Xe灯
- 激发波长：250~800nm
- 带宽：FWHM 5nm/Slit 0.6nm
- 样品抗光降解：自动关闭装置
- 激发波长控制：自动控制
积分球
- 材质：Spectralon（美国Labsphere）
- 尺寸：150mm半球（HalfMoon）
样品固定治具
- 粉剂测量固定治具：SUS304制，无石英盖
- 溶液测量固定治具（常温）：石英制溶液容器（开放型）
功耗
- 电源电压：AC 100~120V/AC 200~230V
软件
- 量子效率（量子产额）测量
- 量子效率（量子产额）的激发波长依赖特性
- 反射光谱测量
- PL激发光谱
- EEM（Excitation Emission Matrix）显示
- 二次激发校正
- 发光光谱测量
- 透过/吸收光谱测量
- 颜色演算（色度、色温、显色指数等）
测量流程：
标签:量子效率测试系统
