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光学响应时间测试仪-OLED响应时间测量仪-RTMHS
浏览次数:139957 分类:Microvision / WP 响应时间测量 液晶时间响应测试系统
RTM-HS是一个专门用于测试响应时间的模块，瞬变时间能达到10μs，可以用于测量OLED，QLED等新型产品的上升时间，下降时间，过冲Overshoot，运动模糊，灰度响应和频闪Flicker等，可以连接示波器显示测量结果，也可以配置相应软件进行结果分析。RTM可以单独安装在支架上进行单点测量，也可以安装在位移台上，用于自动测量显示屏的不同位置。
光学响应时间测试仪-OLED响应时间测量仪-RTMHS 产品描述：
光学响应时间测试仪-OLED响应时间测量仪-RTMHS 是Microvision 一个专门用于显示设备测试响应时间模块，瞬变时间能达到10μs，可以用于测量OLED，QLED等新型产品的上升时间，下降时间，过冲Overshoot，运动模糊，灰度响应和频闪Flicker等，可以连接示波器显示测量结果，也可以配置相应软件进行结果分析。RTM可以单独安装在支架上进行单点测量，也可以安装在位移台上，用于自动测量显示屏的不同位置。
工作原理：
RTM是一个集成的光电二极管/放大器单元，安装在带有适当驱动电子元件的PC板上。它位于光学测量模块(OMM)最上面的位置，也是关闭的。透镜系统与CCD相机标准透镜系统相同，只是多了一个热镜。RTM镜头的光圈和焦距是可变的。热镜用来阻止任何红外线。热镜能阻止波长为700nm或更高的红外辐射撞击光电二极管。使用可 变数量的扩展器耦合允许选择大范围的放大。如果使用的扩展器耦合的数量等于CCD相机 中扩展器耦合的数量，则RTM探测器的放大倍数与CCD相机相同。 RTM还使用ADC板处理时态数据。RTM探测器可以由外部触发，也可以由内部触发。在这两种情况下，系统都可以在强度变化之前或之后立即存储和显示事件。RTM也可以作为一个独立装置使用。
产品亮点：
- 多功能集合体，设计紧凑
- 灵活搭配，可定制
- 动态范围广，无需ND滤光片
- 自动化测试
- 程序自动控温，精确测量
- 包含MV系统软件，操作界面友好
- 提供完整测试方案
- 基于FPDM标准设计
- 用户可自定义客制化测试
- NIST可溯源校准
应用范围：
- 平板显示（FPD）- OLED, QLED, LCD, Micro-LED, Plasma
- 智能移动显示 - 手机，平板
- 投影显示 - 选用余弦扩散器测试
- 抬头显示 - HUD & HDD
- HDTV，NTSC, PAL & SECAM电视
- 适用SS90定位器可测试超大尺寸93”屏幕
- CRT显示 - 单色，彩色，高分辨率医学显示器
技术参数：
RTM 时间响应模块
- 光型：低噪声，快速响应光电二极管
- 样品频率：1MHz Max. (500kHz可选)
- 分辨率：16位
- 探测器响应：20kHz(滤波)
- 瞬变时间：0.01ms ~ 4s
- 同步性：软件和外部选项
- 重复性：3%
- 亮度范围：0.01 ~ 50Kcd/m2
光学响应时间测试仪-OLED响应时间测量仪-RTMHS 升级选项：
- 多功能光学测量模块SS410（搭配CCD相机或光谱辐射计）
- 精准位移台（搭配位移台，可精确位移从而实现自动测试）
- 标准测量（VESA FPDM 2.0，TCO 5.2, 6.0, 7.0, 8.0，ISO 9241-3XX，ISO 13406）
- DUT位移台（DPS-1显示位移台，可以调整DUT x,y,z轴位置，并可调整角度，精度为0.1°）
- 完整测量系统（搭配其他组件，组成SS430系统）
测试案例：
